
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量,可以根據(jù)客戶(hù)需要,選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置
產(chǎn)品分類(lèi)
低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量,可以根據(jù)客戶(hù)需要,選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置??蛻?hù)可以選擇自己搭配測(cè)試儀表集成各類(lèi)測(cè)試,也可以選擇我們的整體測(cè)試解決方案,如電輸運(yùn)測(cè)試、半導(dǎo)體分析測(cè)試、霍爾效應(yīng)測(cè)試、鐵電分析測(cè)試,集成光學(xué)測(cè)試等。
┃ 設(shè)備特點(diǎn)
±2.5T磁場(chǎng),可定制5T磁場(chǎng)
低溫至1.6K,高溫至675K
可測(cè)8英寸晶圓樣品
67GHz高頻探針
3 kV 高電壓探針
大溫區(qū)低溫漂探針
真空腔聯(lián)用傳送樣品
<30 nm低振動(dòng)適用于顯微光學(xué)測(cè)量
霍爾效應(yīng)、鐵電、半導(dǎo)體分析測(cè)試選件
關(guān)注公眾號(hào)

Copyright © 2026 北京盈思拓科技有限公司版權(quán)所有
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 備案號(hào):京ICP備2024075675號(hào)-2
sitemap.xml
電鏡樣品制備
薄膜、塊體樣品制備
晶體樣品制備
粉末樣品制備
器件樣品制備
公司簡(jiǎn)介
企業(yè)文化
聯(lián)系我們